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四探针法测试方阻
1、四探针法测试方阻 通常采用四探针法测量膜电阻的方阻。四个探针接触电阻膜，排成一条直线，间距相等，约为1毫米。
2、探针头与导电薄膜接触的点越小越好。根据相关资料查询，探头由四根探针阻成，要求四根探针头部的距离相等。
3、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。
4、方块电阻就是表面电阻率。可以四探针法直接测试薄膜的表面电阻率。计算公式：方块电阻（或表面电阻率）R = 532 * V / I 。其中，V 是探针2-3 间的电位差； I 是探针1-4 间的电流。
5、如果仅考虑仪器测准的较准（不考虑仪器的负载能力），最简单的方法：将2探针并联后，与一个1欧姆的精密电阻（或标准电阻）的一端相连；4探针并联后，再与精密电阻的另一端相连。
6、四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。
二探针法测电阻率原理
它通过使用两个电极，在被测材料上施加电压并测量电流来估算体积电阻率。
而二探针和四探针则是两种电学性质测量方法。二探针法是利用探针与样品之间的接触阻抗来测量电阻、电导率等电学参数；四探针法则通过四个探针来测量样品的电阻率。
TT系统的接地电阻值 一般关于测量原理 由于N和PE端子之间没有电源电压可以用作测试电压，因此仪器必须产生一个内部电压。该电压可以是DC或AC。使用的仪器使用交流测试电压，按照下图的UI方法进行测量。
请问四探针发测电阻的原理是什么?
总的来说，四探针电阻测试仪的工作原理就像是一部精密的电子魔术师，通过巧妙的探针布局和复杂的计算，为我们揭示了电阻率测量的深层秘密。
四探针测试技术，是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。
用其他的方法也是可以测量的，但是误差要差的很大。其实四探针的测试原理是基于伏安法发展而来的，机械的把四个测点固定了，再测电流和电压值，经过内部运算得出的方块电阻，这样测既方便精度又高。
高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温四探针夹具提供待测试样品的测试平台；电阻率测试仪则负责测试参数数据。
电导率等电学参数；四探针法则通过四个探针来测量样品的电阻率。因此，电子探针和二探针四探针的区别在于它们测量的性质不同，电子探针主要用于表面形貌和电子结构等特性的测量，而二探针和四探针则主要用于电学性质的测量。
测量接地电阻时电位探针应接在距接地端多少的地方
1、测量接地电阻时，电位探针应接在距接地端（）m的地方。
2、米。测量接地电阻时，供电局装设接地线的接地探针的标准完形式，是电位探针应接在距接地端20米的地方。电流极放线长度为地网对角线的2~4倍，电压极为电流极放线长度的一半。
3、将两个接地探针沿接地体辐射方向分别插入距接地体20m、40m的地下，插入深度为400mm。
4、接地电阻测量（如图一）· 沿被测接地极E（CP2）和电位探针P1及电流探针C1，依直线彼此相距20米，使电位探针处于E、C中间位置，按要求将探针插入大地。
5、接地电阻测试仪的测量步骤：将两个接地探针沿接地体辐射方向分别插入距接地体20m、40m的地下，插入深度为400mm。
6、将两个接地探针沿接地体辐射方向分别插入距接地体20m、40m的`地下，插入深度为400mm，如下图所示。