可控硅怎样测量（可控硅怎样测量好坏图解）

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1、BT151是单向可控硅，管脚排列图如下。A是阳极，K是阴极，G是门极（也叫触发极）。用万用表200欧姆电阻档测G和K之间的电阻，一般为几十欧姆（红表棒接G，黑表棒接K或红表棒接K，黑表棒接G都一样）。

2、单、双向可控硅的判别：先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A极（对单向可控硅）也可能是TT1或TG极（对双向可控硅）。

3、测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

4、BT151是双向可控硅，不能用测量三极管的方法来判断它的好与坏。

可控硅怎样测量（可控硅怎样测量好坏图解）

单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

对于第一次和第二次测量，良好的晶闸管将显示低电阻。（注意一些晶闸管，好的晶闸管显示低电阻和“OL”，坏的晶闸管（短路）将显示0ohm2次）。坏的晶闸管（开路）将显示“OL”2次。测试G和K引脚，将显示2次低电阻。

可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

串联谐振耐压试验装置的重量和体积大大减小。

串联谐振耐压装置主要由变频控制器，励磁变压器，高压电抗器，高压分压器等组成。变频控制器又分两大类，20KW及以上为控制台式，20KW以下为便携箱式；它由控制器和滤波器组成。

变频串联谐振耐压装置主要由变频电源、励磁变压器、电抗器、电容分压器组成。使用变频电源时需要将380V的三根火线直接与调频电源的“输入”连接，随后才能接通电源。然后是设置参数，参数设置好之后可以点击自动测试，也可手动测试。

变频串联谐振试验成套装置主要由变频控制器，励磁变压器，高压电抗器，高压分压器等组成。变频控制器又分两大类，20KW及以上为控制台式，20KW以下为便携箱式；它由控制器和滤波器组成。

谐振耐压测试方法是改变测试电路中的电感和频率，使电路处于谐振状态，可以满足高电压、大电流的测试要求。耐压方式按调节方式分为调频和调频。按谐振方式可分为串联谐振和并联谐振。

DAXZ系列串联谐振试验装置是国内外电缆专用便携式变频谐振耐压试验装置，满足GB50150-2006，DL/T846-2004，DL/T596-1996等一系列标准。

良好的晶闸管（可控硅）将显示高电阻为兆欧值，对于第一次和第二次测量，坏的晶闸管（可控硅（短路））将显示0欧姆或低电阻2次。测试A和G脚，良好的晶闸管将显示高电阻，单位为兆欧。

可控硅测量好坏可以通过可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择10；大功率选择100。

单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。