本文目录一览:
- 1、10kv微机保护测控装置厂家
- 2、气动点焊机可控硅模块好坏测量
- 3、怎样测SLa4016可控硅好坏?
- 4、SKKT162/16E如何用万用表测好坏
- 5、双向可控硅的测量方法
- 6、MTC300-16,可控硅模块怎么判断好坏,急?
10kv微机保护测控装置厂家
1、这个电压等级的电机保护器我们一般叫做微机保护测控装置。杭州利亿达科技的Z600D电动机保护器,可以保护3-10KV电机。
2、施耐德(陕西)宝光电器、常州伊顿、库柏(宁波)耐吉等都是国内断路器合资厂家,其中销量最大就属施耐德(陕西)宝光电器。
3、kV及以下线路保护测控装置主要包括以下几种: 零序电流保护:用于检测故障时的零序电流,以判断是否存在接地故障。 过流保护:用于检测过载和短路故障时的相间电流,以防止设备损坏或事故发生。
4、年代及以前,是以RTU为基础的远动装置及当地监控为代表。于90年代初期,单元式微机保护及按功能设计的分散式微机测控装置,得以广泛应用,保护与测控装置相对独立,通过通信管理单元能够将各自信息送到后台或调度端计算机。
5、由于目前110kV以上的保护装置保护功能比较完善,提供的设备信息量也很多,针对电压等级为110kV及以上的微机保护装置,各个厂家几乎都有专用的独立测控装置。
气动点焊机可控硅模块好坏测量
1、测量可控硅好坏的方法如下:万用表选电阻R*1Ω挡,用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚,此时黑表笔的引脚为控制极G,红表笔的引脚为阴极K,另一空脚为阳极A。
2、如果万用表显示导通,那么这个可控硅是好的。如果万用表显示不导通,那么这个可控硅可能是坏的。请注意,以上步骤仅适用于测量SKKT162/16E可控硅的好坏,对于其他型号的可控硅,可能需要采用不同的测量方法。
3、用万用表测:1-2端和 1-3 均为不通,阻值很大约几MΩ;测K1-G1和K2-G2 阻值为几十Ω。符合这个结果就是好的。
4、把里面的可控硅拆下。用绝缘板做个支架用来简单固定待测可控硅。把可控硅电源里面那四根线引出来(两根粗的两个细的)接到待测可控硅上。负载可以用“电炉子”。
怎样测SLa4016可控硅好坏?
1、可控硅测量好坏可以通过可控硅控制极(G)与阴极(K或A2)的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小,将万用表置于合适的电阻档,小功率的选择×10;大功率选择×100。短接两表笔较表,较对万用表指针在“0”的位置。
2、测量可控硅好坏的方法如下:万用表选电阻R*1Ω挡,用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚,此时黑表笔的引脚为控制极G,红表笔的引脚为阴极K,另一空脚为阳极A。
3、单向可控硅的检测:万用表选电阻R*1Ω挡,用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚,此时黑表笔的引脚为控制极G,红表笔的引脚为阴极K,另一空脚为阳极A。
4、主要选择数字万用表、模拟万用表、指针表来测试晶闸管的好坏,指针表比较容易,这里详细讲解一下用数字万用表和模拟万用表。用数字万用表测试晶闸管 (1)取晶闸管从数据表中查找引脚功能,确定极性。
SKKT162/16E如何用万用表测好坏
万用表高阻档,正、反向测量两个主电极,电阻应该无穷大。
离线检测测出IC芯片各引脚对地之间的正,反电阻值。以此与好的IC芯片进行比较,从而找到故障点;在线检测 直流电阻的检测法同离线检测。
数字万用表只能测量电流、电压、电阻,并不能判断电器的好坏。在电子器件发生损坏时,一般会发生线路的故障,这时利用数字万用表测量其电阻电压等可以检测其中某一线路的好坏,但也仅限于这一段线路。
主要测量参数2个:一是开路电压,二是短路电流。开路电压测量方法,是电池板不接负载放在太阳光下面直射,用万能表直流电压档测输出端电压即可。短路电流测量方法,用万能表直流电流档直接测量输出端。档位选择大一些。
双向可控硅的测量方法
以下是一些测试双向可控硅好坏的方法: - 电阻测量法:用万用表测量双向可控硅的阴阳极之间的电阻,如果测量结果显示为无穷大,则说明双向可控硅已经损坏。
根据P-N结的原理,只要用万用表测量一下三个极之间的电阻值就可以。
使用万用表检测单向晶闸管。用电阻x1kΩ测量A和K之间的电阻,正反向电阻值均接近无穷大;用电阻x10Ω测量G和K之间的电阻,阻值范围在十几欧姆到一百欧姆之间,且功率越高,欧姆值越小。
双向可控硅的好坏可以用数字万用表或等效工具进行测量。首先需要将测试电路搭建好,并且开关处于关闭状态。然后将数字万用表转换为电阻测量模式,将其测试笔分别连接到双向可控硅的两端,记录下测试读数。
BTB16-600B判别好坏的方法:万用表测量方法。BTB16-600B可控硅管脚朝下,字面朝自己;用指针万用表1档,黑笔接阳极,红笔接阴极,此时指针不偏转(阻值无穷大)。
MTC300-16,可控硅模块怎么判断好坏,急?
1、可控硅测量好坏可以通过可控硅控制极(G)与阴极(K或A2)的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小,将万用表置于合适的电阻档,小功率的选择×10;大功率选择×100。短接两表笔较表,较对万用表指针在“0”的位置。
2、判断可控硅的好与坏最简单的方法:用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面,电阻应呈无穷大(表针基本不动),再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小,则说明该可控已损坏。
3、正、反向电阻值相等或差异极小。说明可控硅的G、K并不像一般三极管的发射结,有明显的正、反向电阻的差异。这种测量方式是有局限性的,当A、K之间已呈故障开路状态时,则无法测出好坏。
4、晶闸管(可控硅)极性判断的方法 根据封装形式(外观)普通晶闸管(可控硅)的极性可以根据其封装形式来判断。螺栓型普通晶闸管(可控硅)的螺栓端为阳极A,较细的引线端为栅极G,较粗的引线端为阴极K。
5、触发信号撤去,可控硅将不能维持继续导通,无法做出判断。因此,指针表的其它电阻档和数字万能表的电流太小,是不能这样检测的。双相可控硅检测是一样的,只是因为它可以正触发也可以负触发,就是表笔怎么接,都能触发的。