判断可控硅的好坏（判断可控硅好坏的方法和步骤）

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1、测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

2、良好的晶闸管（可控硅）将显示高电阻为兆欧值，对于第一次和第二次测量，坏的晶闸管（可控硅（短路））将显示0欧姆或低电阻2次。测试A和G脚，良好的晶闸管将显示高电阻，单位为兆欧。

3、可控硅测量好坏可以通过可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

4、判断可控硅的好与坏最简单的方法：用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。

5、双向可控硅的检测：用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。

6、单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

判断可控硅的好坏（判断可控硅好坏的方法和步骤）

2、单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

3、可控硅的好坏可以通过控制极（G）与阴极（K或A2）的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

5、可控硅好坏测量方法如下：工具/原料：万用表、单向可控硅。单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω档，用红黑两笔表分别测任意两引脚间正反向电阻，直至找出读数为数十欧姆的一对引脚。

6、找出读书为数十欧姆的一对引脚，其中黑表笔为G极，红表笔为K极，空引脚为A极。检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。

1、当晶闸管标识模糊，无法直观地判别出极性时，就需要检测晶闸管。

2、可控硅测量好坏可以通过可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

3、使用数字万用表检查可控硅数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。

1、可控硅的好坏可以通过控制极（G）与阴极（K或A2）的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

2、判断可控硅的好与坏最简单的方法：用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。

3、主要选择数字万用表、模拟万用表、指针表来测试晶闸管的好坏，指针表比较容易，这里详细讲解一下用数字万用表和模拟万用表。用数字万用表测试晶闸管（1）取晶闸管从数据表中查找引脚功能，确定极性。

1、对于第一次和第二次测量，良好的晶闸管将显示低电阻。（注意一些晶闸管，好的晶闸管显示低电阻和“OL”，坏的晶闸管（短路）将显示0ohm2次）。坏的晶闸管（开路）将显示“OL”2次。测试G和K引脚，将显示2次低电阻。

2、可控硅的好坏可以通过控制极（G）与阴极（K或A2）的性能来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

3、判断可控硅的好与坏最简单的方法：用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。

4、单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。