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什么是四探针电阻率测试仪?
四探针电阻率测试仪其实从专业角度来说，就是高温四探针测量系统。该系统包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量软件。三琦高温四探针测量系统是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。
四探针电阻率/方阻测试仪是一款专为半导体材料如硅单晶、锗单晶和硅片电阻率测量设计的精密仪器。它主要由主机、测试架和四探针头构成，其创新之处在于配置了双数字表，一个用于测量电阻率，另一个以万分之几的精度实时监控电流变化，确保测量过程的精确性。
数字四探针测试仪是一种多用途的综合测量设备，其工作原理基于四探针测量法。这款仪器严格遵循单晶硅物理测试方法的国家标准，并参考美国A.S.T.M标准进行设计，特别适用于半导体材料电阻率和方块电阻（薄层电阻）的精确测量。它由主机、专用测试台、四探针探头和计算机等组件构成。
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。
四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。四探针测试技术，是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。
在现代电子科学中，四探针电阻测试仪是一种不可或缺的精密设备。它的独特之处并不在于与普通电阻表的基本结构，而在于其测量方法的巧妙设计和背后的计算逻辑。让我们一起探索这台仪器背后的科技奥秘，看看它是如何通过四探针的协同工作，实现对电阻率的精细测量。首先，让我们聚焦在四探针直线测量上。
极片电阻测试方法探究-单探针&两探针&四探针
对于箔材和极片电阻率，测试方法的差异性主要体现在探针与极片表面接触电阻的不同，以及电子传输路径的差异。单探针法测试时，电子传输路径包含涂层与集流体界面、集流体以及横向集流体，而四探针法则通过分离的电流和电压电极，消除了接触电阻的影响，因此测得的电阻率绝对值最小。
正极材料极片电阻率是正极材料的电阻率，首先要知道电池片的厚度、直径、探针间距、测点距边缘的距离、环境温度和电池片的PN结情况；在测量中要知道测量电流，和3探针的电压。就可以知道电阻率是多少。
外观检查：仔细观察探针的外观是否有损坏的迹象。检查探针是否弯曲、断裂或簧片是否松动变形等。这些现象表明探针已经损坏。万用表检测：使用万用表来测试探针的电阻情况。将万用表的测试引线分别连接到探针的两个端口上，读取电阻值。
接地电阻测试仪附带两根探针分别是?
接地电阻测量仪的结构：接地电阻测量仪主要由手摇发电机、电流互感器、电位器以及检流计组成，其附件有两根探针，分别为电位探针和电流探针，还有3根不同长度的导线(5m长的用于连接被测的接地体，20m的用于连接电位探针，40m的用于连接电流探针)。
测试设备：接地电阻测试仪，一种是普通摇表，一种是电子式的。测试方法：可参详仪表说明书。通常都会有两根探针，较长的两根引出按说明书接好(C)接较长的线，(P)接较短那根。最短的一根(E)接被测试点。接好后调整摇表上的旋钮，使中间指针指到0；以每分钟转的速度来摇动摇表。
接地电阻测试仪的构成包括手摇发电机、电流互感器、电位器和检流计等主要部分，并配备有两根探针——电位探针和电流探针，以及三根不同长度的导线，分别用于连接被测接地体、电位探针和电流探针。当以120转/分钟的速度摇动手摇发电机时，测试仪能够产生大约100伏特、110至115赫兹的交流电压。
电位器卜猜（可能是指电位器调节器）允许操作员精确设置测试电位。 电流互感器用于测量通过接地系统的电流。 检流计则用于检测电流的方向，以确定接地电阻的大小。 测试仪的铝合金铸造外壳不仅保护内部元件，还确保了整体设备的密封性。
接地电阻测试仪使用方法如下：将两个接地探针沿接地体辐射方向分别插入距接地体20m、40m的地下，插入深度为400mm。将接地电阻测量仪平放于接地体附近，并进行接线，接线方法：用短的专用导线将接地体与接地测量仪的接线端E1（三端钮的测量仪）或与C短接后的公共端（四端钮的测量仪）相连。
可采用数字接地电阻测试仪来进行测试。接地电阻表是一种专门用于测量接地电阻的便携式仪表，它也可以用来测量小电阻及土壤电阻率。接地电阻表主要由手摇交流发电机、电流互感器、电位器以及检流计组成。
四探针测试仪测量电阻率
1、四探针测试仪具备一系列技术参数，以确保精准测量。首先，测量范围广泛，包括电阻率在10^-4至10^5 Ω.cm之间，方块电阻覆盖10^-3至10^6 Ω/□，电导率量程为10^-5至10^4 s/cm，电阻量程则为10^-4至10^5 Ω。
2、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。四探针测试技术，是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。
3、四探针测试仪在半导体材料的电阻率测量中扮演着重要角色，作为标准方法，其以设备简便、操作便捷和高精度见长，对样品尺寸要求相对宽松。该方法不仅限于电阻率测定，还广泛应用于半导体器件扩散层电阻的测量，以评估其品质是否达标。
4、技术参数方面，测试仪的测量范围广泛，电阻率可达0.0001~19000Ω·cm，方块电阻在0.001~1900Ω·□之间。恒流源输出电流在0.001~100mA，精度达到±0.05%。直流数字电压表具有10μV的高灵敏度，基本误差控制在±0.004%读数 + 0.01%满度。供电为AC 220V±10% 50/60 Hz，功率为12W。
5、四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。
6、毛面较能保证金属探针与样品接触良好，所以测量单晶样品电阻率时测试平面要求为毛面。